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| 品牌 | ElektroPhysik/德國EPK | 價格區間 | 1萬-2萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,石油,航空航天,汽車及零部件,綜合 |
德國EPK
德國ElektroPhysik(簡稱EPK)公司是一家專(zhuan) 門生產(chan) 測厚儀(yi) 的專(zhuan) 業(ye) 公司，自1954年以來一直致力於(yu) 測厚類產(chan) 品的開發和研究工作，是世界上生產(chan) 測厚類產(chan) 品的公司之一。
半個(ge) 多世紀以來，EPK公司作為(wei) 測厚領域的公司，在這個(ge) 領域取得很高的聲譽，有著不可替代的地位。EPK產(chan) 品包括：MikroTest麥考特係列機械型塗鍍層測厚儀(yi) ，MiniTest 70係列口袋式便攜式塗鍍層測厚儀(yi) ，MiniTest 700係列創新型SIDSP塗鍍層測厚儀(yi) ，MiniTest 1100-2100-3100-4100係列/MiniTest 7400高精度塗鍍層測厚儀(yi) ，MiniTest 600係列電子型塗鍍層測厚儀(yi) ，QUINTSONIC超聲波塗層測厚儀(yi) ，GALVANOTEST庫侖(lun) 鍍層測厚儀(yi) ，MiniTest 7200/7400 FH壁厚測厚儀(yi) ，MiniTest 400係列超聲波測厚儀(yi) ，CTM-S連續厚度測量係統，StratoTest 4100路麵測厚儀(yi) ，StratoTest 4100 C爐壁測厚儀(yi) ，PoroTest 7塗層針孔檢測儀(yi) 等。
德國EPK塗鍍層測厚儀(yi) MiniTest1100/2100/3100/4100技術特征：
| 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存儲的數據量 | ||||
| 應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算，並可設寬容度極限值) | 1 | 500 | ||
| 可用各自的日期和時間標識特性的組數 | 1 | |||
| 數據總量 | 10000 | 10000 | 10000 | |
| MINITEST統計計算功能 | ||||
| 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar | √ | √ | √ | |
| 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ | √ | ||
| 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar | √ | √ | ||
| 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ | √ | ||
| 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 | √ | |||
| 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 | √ | √ | ||
| 顯示並打印測量值、打印的日期和時間 | √ | √ | √ | |
| 其他功能 | ||||
| 設置極限值 | √ | √ | ||
| 連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別Z大Z小值 | √ | √ | ||
| 連續測量模式中測量穩定後顯示讀數 | √ | √ | ||
| 連續測量模式中顯示Z小值 | √ | √ | ||
德國EPK塗鍍層測厚儀(yi) MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數：
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇Z適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體(ti) 材料以及基體(ti) 的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體(ti) 上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體(ti) 上的絕緣覆層
FN兩(liang) 用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | Z小曲率半徑 | Z小測量 | Z小基 | 探頭尺寸 | |
磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平麵/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平麵/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
兩(liang) | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平麵 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | |
電 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平麵/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | |
N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平麵/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平麵 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平麵 | 7mm | 無限製 | φ17x80mm | |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為(wei) 直角探頭，用於(yu) 管內(nei) 測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用於(yu) 絕緣體(ti) 上的有色金屬覆層。
德國EPK塗鍍層測厚儀(yi) MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭
 | FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度 |
 | FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 |
 | F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適於測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(O.1μm) |
 | F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭 可用於較厚的覆層 |
 | F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合於在管內壁測量 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合於在管內壁測量 |
 | F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層， 如玻璃、塑膠、混凝土等 |
 | F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 |
 | N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用於測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 |
 | N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適於測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | N2 0～2000μm,φ5mm 非磁性測頭，適於測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 |
 | N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適於測量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內壁測量 量程低端分辨率很高(O.1μm) |
 | N2/90 0～2000μm,φ5mm 磁性測頭， 尤其適合在管內壁測量 |
 | N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適於測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適於測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適於測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
 | CN02 10～200μm,φ7mm 用於測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |