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| 品牌 | ElektroPhysik/德國EPK | 價格區間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
德國EPK
德國ElektroPhysik(簡稱EPK)公司是一家專(zhuan) 門生產(chan) 測厚儀(yi) 的專(zhuan) 業(ye) 公司，自1954年以來一直致力於(yu) 測厚類產(chan) 品的開發和研究工作，是世界上生產(chan) 測厚類產(chan) 品的公司之一。
半個(ge) 多世紀以來，EPK公司作為(wei) 測厚領域的公司，在這個(ge) 領域取得很高的聲譽，有著不可替代的地位。EPK產(chan) 品包括：MikroTest麥考特係列機械型塗鍍層測厚儀(yi) ，MiniTest 70係列口袋式便攜式塗鍍層測厚儀(yi) ，MiniTest 700係列創新型SIDSP塗鍍層測厚儀(yi) ，MiniTest 1100-2100-3100-4100係列/MiniTest 7400高精度塗鍍層測厚儀(yi) ，MiniTest 600係列電子型塗鍍層測厚儀(yi) ，QUINTSONIC超聲波塗層測厚儀(yi) ，GALVANOTEST庫侖(lun) 鍍層測厚儀(yi) ，MiniTest 7200/7400 FH壁厚測厚儀(yi) ，MiniTest 400係列超聲波測厚儀(yi) ，CTM-S連續厚度測量係統，StratoTest 4100路麵測厚儀(yi) ，StratoTest 4100 C爐壁測厚儀(yi) ，PoroTest 7塗層針孔檢測儀(yi) 等。
主機參數
| 型號 | MiniTest7400 |
| 數據記憶組數 | 500 |
| 存儲數據量 | 約250000個讀數 |
| 統計值(每批組) | 讀數個數，Z大值，Z小值，平均值，標準偏差，變異係數，組統計值(標準設置/自由配置)，過程能力指數CP和CPK，直方圖，趨勢圖 |
| 校準程序符合標準和規範 | ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準 |
| 校準模式 | 多5點校準，使用者可調節補償值 |
| 極限值監控 | 聲音、視覺報警提示超過極限值 |
| 測量單位 | μm，mm，cm，mils，inch，thou |
| 操作/存放溫度 | -10℃~60℃/-20℃~70℃ |
| 數據接口 | IrDA®1.0紅外接口，可選USB和RS232適配器 |
| 電源 | 4節AA(LR06型)電池，或可選外接電源(90－240V～/48－62Hz) |
| 規範和標準 | DIN EN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882, 19840, AS3894; SS 1841 60, SSPC-PA 2, IMO-PSPC, ASTM B 244, B 499, D 7091, E376 |
| 顯示 | 160x160像素LCD帶背光 |
| 尺寸 | 153mmx89mm32mm |
| 重量 | 310g；(主機包括電池) |
探頭參數
注：HD探頭是針對於(yu) 油漆或粉塵汙染等惡劣環境設計的堅固探頭，F2HD特別適用於(yu) 粗糙表麵。
德國EPK MiniTest7400高精度塗層測厚儀(yi) （Elektrophysik）
特點
- 高精度塗層測厚儀(yi)
- 所有金屬基材上的非破壞性測量
- 多種圖形顯示選項
- 菜單控製界麵，更強的數據和配置管理
- 用於(yu) 簡易配置評估和數據設置報告的PC軟件
- 測量厚度高達35mm的各種耐磨探頭
- SIDSP技術提升JING確度和重現性
| 標準探頭 | HD探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | 重複性 (標準偏差) | Z小曲率 半徑 (凸/凹) | Z小測量 區域直徑(無測量標準) | Z小測量 | Z小基 體厚度 |
| F05 | F05HD | 0~0.5mm | 0.02μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 1/7.5mm | 14mm | 5mm | 0.3mm |
| F1.5 | F1.5HD | 0~1.5mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 1/7.5mm | 14mm | 5mm | 0.3mm |
| F1.5-90 | 0~1.5mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 平麵/5mm | 10mm | 5mm | 0.3mm | |
| F2HD | 0~2mm | 0.1μm | ±(1.5μm±0.75%) | ±(0.8μm±0.5%) | 1.5/10mm | 14mm | - | 0.5mm | |
| F5 | F5HD | 0~5mm | 0.1μm | ±(1.5μm±0.75%) | ±(0.8μm±0.5%) | 1.5/10mm | 14mm | 10mm | 0.5mm |
| F15 | 0-15mm | 1μm | ±(5μm±0.75%) | ±(2.5μm±0.5%) | 5/25mm | 25mm | 25mm | 1.0mm | |
| F35 | 0-35mm | 5μm | ±(20μm±0.75%) | ±(10μm±0.5%) | 50/50mm | 100mm | - | 1.5mm | |
| N0.2 | N0.2HD | 0~0.7mm | 0.02μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 1/7.5mm | 14mm | 5mm | 40μm |
| N0.7 | N0.7HD | 0~0.7mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 1/7.5mm | 14mm | 5mm | 40μm |
| N0.7-90 | 0~0.7mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 平麵/5mm | 10mm | 5mm | 40μm | |
| N2.5 | N2.5HD | 0~2.5mm | 0.1μm | ±(1.5μm±0.75%) | ±(0.8μm±0.5%) | 1.5/10mm | 14mm | 10mm | 40μm |
| N7 | 0~2.5mm | 1μm | ±(5μm±0.75%) | ±(0.8μm±0.5%) | 15/25mm | 23mm | 20mm | 40μm | |
| FN1.5 | FN1.5HD | F：0~1.5mm N：0~0.7mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 1/7.5mm | 14mm | 5mm | F：0.3mm N：40μm |
| FN1.5-90 | F：0~1.5mm N：0~0.7mm | 0.05μm | ±(1μm±0.75%) | ±(0.5μm±0.5%) | 平麵/5mm | 10mm | 5mm | F：0.3mm N：40μm | |
| FN5 | FN5HD | F：0~5mm N：0~2.5mm | 0.1μm | ±(1.5μm±0.75%) | ±(0.8μm±0.5%) | 1.5/10mm | 14mm | 10mm | F：0.5mm |
德國EPK MiniTest7400高精度塗層測厚儀(yi) （Elektrophysik）
特點
- 高精度塗層測厚儀(yi)
- 所有金屬基材上的非破壞性測量
- 多種圖形顯示選項
- 菜單控製界麵，更強的數據和配置管理
- 用於(yu) 簡易配置評估和數據設置報告的PC軟件
- 測量厚度高達35mm的各種耐磨探頭
- SIDSP技術提升JING確度和重現性
德國EPK MiniTest7400高精度塗層測厚儀(yi) （Elektrophysik）
特點
- 高精度塗層測厚儀(yi)
- 所有金屬基材上的非破壞性測量
- 多種圖形顯示選項
- 菜單控製界麵，更強的數據和配置管理
- 用於(yu) 簡易配置評估和數據設置報告的PC軟件
- 測量厚度高達35mm的各種耐磨探頭
- SIDSP技術提升JING確度和重現性
德國EPK MiniTest7400高精度塗層測厚儀(yi) （Elektrophysik）
特點
- 高精度塗層測厚儀(yi)
- 所有金屬基材上的非破壞性測量
- 多種圖形顯示選項
- 菜單控製界麵，更強的數據和配置管理
- 用於(yu) 簡易配置評估和數據設置報告的PC軟件
- 測量厚度高達35mm的各種耐磨探頭
- SIDSP技術提升JING確度和重現性